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本系统能对被测物施加突发干扰，再现被测物出现故障的现象；能采用不同的方式，向电子模块直接注入突发性的电场干扰或磁场干扰，从而定位电路板上的电磁薄弱点，理解耦合机理，并完成***化的设计修改。帮助工程师排除ESD和EFT问题

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E1 抗干扰开发系统说明

E1 抗干扰开发系统是电子研发工程师对组件进行快速瞬变脉冲群（Burst）和静电放电（ESD）等

脉冲抗干扰测试的成熟工具。利用该工具，可以对模块进行小空间范围内的抗干扰度分析。在对

受试设备（EUT）的抗干扰分析中，能够选择性地给部分模块或部分路段注入干扰电流（干扰电

流路径），以及能够对其表面的选定区域施加电脉冲场（E 场）或磁脉冲场（H 场）正是快速、

准确定位薄弱点的关键。另外，使用本系统还可以在施加脉冲干扰的同时，进行无反作用的光纤

信号监测。

E1 干扰发射开发系统的着重点是对系统开发过程的支持。利用E1 系统，开发人员可以在工作场

地排查设备/组件的干扰问题，或者通过了解干扰问题的直接原因，测量评估修改措施的效果，增

强设备/组件的抗干扰度。

E1 抗干扰开发系统不能用来进行标准兼容性测试，但是按照 IEC 61000-4-4 和 IEC 61000-4-2 标准对

组件进行抗干扰的测试结果，是使用E1 系统进行抗干扰测试的良好基础。通用脉冲群发生器产生

的标准干扰信号被耦合到输入端，并通过地线回流到发生器。这些脉冲状的干扰信号流过设备组

件的路径是未知的。在设备当中，未知的部分干扰信号流入某个未知的接受载体而产生功能故

障。这个薄弱点的位置往往仅局限在组件上几平方厘米的范围内，但是通过标准测试方法很难对

其定位。开发人员还不知道，是否是干扰电流及其磁场以及在什么位置导致导线回路中产生感应

电压脉冲，或者电场容性耦合进入了敏感线路。

如果设备通不过标准测试，其最重要的测试结果是关于功能故障类型的详细信息。但是仅仅凭借

这些故障信息尚无法具体定位受试设备中的薄弱点。所以，建议先对受试设备进行标准的抗干扰

测试，确定可能的故障现象，然后开发人员根据这些故障现象，在产品开发场地利用E1 系统定位

故障点及分析故障原因，给出排除干扰问题、设计修改等解决办法，并使用E1 开发系统，评估各

项修改措施的有效性。

借助E1 系统，开发人员可以***节约产品开发时间、降低开发成本。

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