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韩国Micro Pioneer XRF-2000PCB型X-Ray镀层测厚仪

特别为线路板制造商设计制造的一款X-Ray镀层测厚仪。 展开

价    格

订货量

  • 22.8万

    1 - 4台

  • 21.8万

    5 - 9台

  • 19.8万 价格为商家提供的参考价,请通过"获取最低报价"
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    ≥10台

  • 发货地上海 嘉定区
  • 发货期限30天内发货
  • 供货总量14台
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产品特性无损测试是否进口
产地韩国加工定制
品牌Micro Pioneer型号XRF-2000PCB
测量范围0-35μm测量精度±5%(单镀层)
分辨率0.001μm电源电压220V
用途线路板镀层厚度
展开

韩国Micro Pioneer XRF-2000PCB型X-Ray镀层测厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000PCB型X-Ray镀层测厚仪

特别为线路板制造商设计制造的一款X-Ray镀层测厚仪。

规格参数:

机箱尺寸 : 610 W x 670 D x 490 H

可测量样品大小 : Infinity x 30 H

XYZ轴移动范围 : 200 W x 150 D x 30 H

承重 : 3 KG

更多参数请联系上海益朗仪器有限公司获取


韩国Micro Pioneer XRF-2000型镀层测厚仪

特征

◆ 可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度

◆ 可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。

◆ 薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于无铅焊锡的应用。

◆ 备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

测量原理

物质经X-Ray或粒子照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X-Ray镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。

测量方法

镀层厚度的测量方法可分为标准曲线法和FP法(理论演算方法) 2种。标准曲线法是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光 X-Ray的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。 之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。FP法即是Fundamental Parameter Method的简称,即基本参数法

① 标准曲线法

经X-Ray照射后,镀层和底材都会各自产生荧光X-Ray,我们必须对这两种荧光X-Ray能够辨别,方能进行镀层厚度的测量。也就是说,镀层和底材所含有的元素必需是不完全相同的。这是测量镀层厚度的先决条件。

对某种金属镀层样品进行测量时,基于镀层厚度、状态的不同,所产生的荧光X-Ray的强度也不一样。

镀层厚度测量时,可采用两种不同方法,一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X-Ray强度,称为激发法。另一种是注重底材中的元素所产生的荧光X-Ray强度,称为吸收法。这两种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。

镀层厚度测量时,测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X-Ray强度之间的关系,并做出标准曲线。然后再测量未知样品的荧光X-Ray强度,得到其镀层厚度。但是需注意的是,荧光X-Ray法是从得到的荧光X-Ray的强度来求得单位面积的元素附着量,再除以元素的密度来算出其厚度。所以,对于含有杂质或多孔质蒸镀层等与纯物质不同密度的样品,需要进行修正。

② 薄膜FP法

采用薄膜FP法,只需要比标准曲线法更少的标准样品,就能简单迅速地得到定量的结果。

如果样品均匀,所使用分析线的强度就可用样品的成分和基本参数的函数来表示。换句话说,从任意组成的样品所产生的分析线强度,都可以从这基本参数来计算出,所以我们称这种方法为基本参数法。

如果荧光X-Ray产生的深度当做限大来考虑,这方法就适用于块体样品;如果将荧光X-Ray产生的深度当做非常小的值(临界厚度以下)来考虑,这方法就可以适用于薄膜样品。

如上所述,FP法的特征是可对块体样品进行成分分析到薄膜样品的成分与厚度同时进行分析与测量。

仪器系统结构

① 测量部分的结构

用于照射(激发)的X-Ray是采用由上往下照射方式,用准直器来确定X-Ray的光束大小。

样品的观察是利用与照射用的X-Ray同轴的CCD摄像机所摄制的图像来确定想要测量的样品位置。标准配备了多种尺寸的准直器可根据需要调整照射X-Ray的光束大小来决定测量面积,最小可测量面积是40umф。

② X-Ray操作部分(X-ray station)

Excel和Word是标准配置,利用这些软件,我们可以简单快速地进行测量数据的统计处理及测量结果报告书的编辑和打印。



供应商信息

上海益朗仪器有限公司是一测试仪器代理商,本公司代理各国名厂符合IPC标准之工业测试及试验室设备,主要服务对象为PCB、半导体、LCD、电子、连接器、五金电镀厂商及科研机构试验室,以下是详细目录: 一、环境测试设备 全线环境测试设备包括:温湿度记录仪、可编程式温湿度控制箱、冷热冲击试验箱、老化测试箱、强制劣化试验机、盐雾试验箱、振动/落下试验机等。 二、印刷电路板物理测试设备 我集团在中国和香港地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于PCB镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。电路板样品制作设备、X射线荧光测厚仪(美国Thermo noran、日本精工、韩国MACRO PIONEER)、金相微切片制作设备(美国EXTEC、德国SCANDIA)、铜箔拉力计(美国CECE之TA620、TA630、TA631)、铜箔测厚仪、层压板凝胶温度计(美国CECE公司之TA650)、基板板厚测量计、线性微距测量计、V槽深度计、粘度计、电弧电阻值测量计、基板耐高压测试仪、高(低)电阻测试仪、基板拉力试验机、磨擦损耗试验机、燃烧性试验机、硬度计、可焊性测试仪、特性阻抗测试仪(英国)、PCB离子污染度测试仪(适用于软、硬板)、X光透视仪(日本PONY)(可透视内层)、岛津全自动便携式氦质谱检漏仪、微粒粒子计数仪(用于检测试验室或工厂环境洁净等级是否合格)。 三、日本光学检查及视像测量设备 高倍金相显微镜、视像摄取-测量-显示-处理系统、非接触式深度(高度)测量显微镜、非接触(XY坐标)测量显微镜、二次/三次元平面坐标测量机、电路板通孔检测显微镜、平台式立体平面检测显微镜、孔径测量计、孔规。 四、电镀控制设备 禾威酸碱/氧化还原自动控制设备,包括: 1.化学镀铜/镍药液自动添加设备 2.微蚀刻铜自动添加设备 3.液冷水塔自动添加设备 4.可同时控制多个水泵及输出 5.符合欧洲及美标 多年来,我们也在致力于为PCB 厂商,半导体生产行业及一般电镀业等行业提供专业周到的售后服务。主机一年保修,终生维护是我们的服务承诺。欲了解更多,请与我们联系:137-01600767

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企业类型 有限责任公司(自然人投资或控股) 统一社会信用代码 9131011658211711XA
成立日期 2011-09-14 法定代表人/负责人 桂犀
注册资本 50万(元) 注册地址 上海市奉贤区肖湾路511号2幢3层
营业期限 2011-09-14 至 2041-09-13 登记机关 奉贤区市场监督管理局
经营范围 仪器仪表、工具刃具、五金交电、电子产品、办公用品、一般劳防用品、针纺织品、电子元件、金属制品、通讯设备、通信器材、印刷器材、实验室设备、水管、阀门、管道配件、泵、机械设备及配件、计算机、软件及辅助设备批发、零售。 【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
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