收购菲希尔（Fischer）二手膜厚仪

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不限。上门求购，现金交易。现金***回收FISCHER 

X-RAY XDLM-** XMDVM-T7.1W XDL-B XUL XULM XDV-u 

等机型膜厚测试仪，我们将以***的价格收购您手

中闲置或需要更新换代的膜厚测试仪及ROHS膜厚测试

仪。

德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪 

德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪介

绍：适用于Windows?2000或Windows? XP的真Win32位

程序带在线帮助功能。  频谱库中允许创建从元素钛

至铀的任何一种新的产品。  能通过“应用工具箱”(

由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应

用的校准简单化。  画中画测试件查看和数据显示，

带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻

度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光

束的大小取决于测量的距离，见背面）图形化的用户

界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中  对试

件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法

）范围可达80mm(3.2〞)

德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪特

点：

FISCHERSCOPE? XDL?-B是一款基于Windows? 的镀层厚

度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下

。  XDL?-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法

（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光

谱强度的差别。对于XDL?-B 带测量距离固定的X-射线

头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和

不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微

波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。德国菲希

尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪技术参数：

.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准

DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方

法；原始射线从上至下；  X-射线管高压设定可调节

至的应用：50kV，40kV或30kV；  单个0.3mm直径

(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择

0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm;

或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。测量箱外部尺寸：

（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22

〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；  带槽箱

体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 

mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；  嵌入式

固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的

超出尺寸的测试工件。  从X-射线头部（X-射线管，

成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板

有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面

）必须在定货时明确（标准设定：中间位置）  试件

查看用彩色摄像机.带有LED状态指示灯的测量开始/结

束按钮与测试箱集成在一体。有意者可随时打电话询

问。 

谢生 ：186 8233 5195

地址：深圳宝安沙井洋下大道8号凯悦大厦1704